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原文【专利解密】警惕芯片破解三星检测方案帮助 603708

三星,原文,芯片,检测,专利,帮助,方案时间:2021-03-18 09:41:33浏览:130
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原标题:【专利解密】警惕芯片裂缝三星检测方案帮助

【卫报评论】三星发明的芯片裂纹检测方案,利用辐射镜检测裂纹。与传统方案相比,这种利用反射波确定裂缝的方法可以准确测量反射波的距离,进而检查裂缝的位置。

据微网消息,中美贸易战开始以来,美国开始用芯片掐中兴,然后限制华为。芯片产业成为全民关注的焦点,民众对国内芯片产业寄予厚望,期待突破技术封锁,提升国内产业结构。

然而,制造芯片是困难的。有人把集成芯片列为20世纪以来最伟大的发明之一,其工艺的复杂程度令人震惊。此外,在半导体芯片和半导体封装的组装过程中,微裂纹可能出现在芯片的边缘,这可能随着时间的推移而扩散,并且可能导致半导体芯片和半导体封装的质量问题。

因此,可以应用芯片裂纹检测,芯片裂纹检测电路需要及时发现裂纹并向系统返回信号。如果信号在特定时间内没有返回,可以判断芯片边缘区域有缺陷。但是,目前的方案只能知道是否有裂缝,不能准确检查裂缝的位置。

因此,三星申请了一项名为“裂纹检测芯片”的发明专利(申请号:201910139939.9),申请人是三星电子有限公司..

根据本专利公开的信息,我们来看看这个芯片裂纹检测方案。

上图是本专利发明的裂纹检测芯片的布局图,主要包括检测芯片10、保护环20、第一边缘布线100和焊盘200。芯片包括内部区域Ra和外部区域Rb,外部区域是芯片的边缘区域。这种划分将芯片的核心组件聚集在内部区域。即使外部出现裂纹,也不会破坏芯片的功能,从而在一定程度上保证了芯片的功能。

然而,当裂纹从外部扩展到内部区域时,可能会严重损害芯片的可靠性。因此,为了保证芯片的正常使用,应该防止在内部区域形成裂纹。这里,护环起这个作用。位于Ra和Rb之间的保护环可以防止裂纹从外部区域扩展到内部区域。此外,该组件还具有密封功能,可以防止外部水分进入芯片,损坏芯片。

最后,我们来看看这种裂纹检测方法的流程图。首先,辐射镜通过焊盘将入射波施加到第一边缘布线。这时,如果遇到裂缝,就会形成反射波。通过检测入射波的应用时间点和反射波的到达时间点,可以计算出第一次反射波距离,然后根据该距离可以准确地检查裂缝位置。

以上是三星发明的芯片裂纹检测方法。硬件布置上,采用保护环和边缘布线,保证周边裂纹不会扩散到芯片内。同时利用辐射镜检测裂缝。与传统方案相比,这种利用反射波确定裂缝的方法可以准确测量反射波距离,进而检查裂缝的位置。专利方案也为芯片制造行业增加了一个缓冲器,提高了芯片通过率。

(校对/holly)回搜狐多看

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